晶体管特性图示仪
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产品简介
晶体管特性图示仪采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电极扫描功能，可以对被测半导体器件的特性进行对比分析，便于晶体管的配对。设有5kV高压装置。本仪器适用于各种半导体三极管、二极管、场效应管、可控硅、稳压二极管、及三端稳压器等器件的测试。
技术参数
Ｙ轴偏转因数：
集电极电流范围(IC)0.5μA/div—1A/div 分２０档
(IR)50nA/div—1μA/div 分５档
基极电流或基极源电压( )0.01V/div
外接输入0.01V/div
Ｘ轴偏转因数：
集电极电压范围(VC)10mV/div—50V/div 分12档
(VD) 500V/div
基极电流或基极源电压( )0.01V/div
外接输入 0.01V/div
阶梯信号
阶梯电流范围：0.5μA/级--100mA/级 分17档
阶梯电压范围：0.05V/级—1V/级 分5档
串联电阻：O、10KΩ、1MΩ 分３档
每簇级数：1—10级 连续可调。
每秒级数：200
极性：正、负、异 分三档。
集电极扫描信号
峰值电压范围及电流容量：
0—10V档 (10A)
0—50V档 (1A)
0—100V档 (0.5A)
0—500V档 (0.1A)
0—5KV档 (5mA)
0--500VAC档 (0.1A)
功耗限制电阻： 0~500KΩ 分11档
一般性能
形式：卧式
外形尺寸：320×210×400(mm)
重量：约18kg
电源电压：220V±10%
频率： 50Hz±5%
视在功率：非测试状态 约50VA
最大功率：约80VA
注：以上信息及技术参数来源于扬州达瑞电气有限公司整理发布
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